介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)機(jī)主要采用諧振法和電橋法兩種技術(shù)路線：

諧振法
通過構(gòu)建 LC 振蕩電路，將待測(cè)材料作為電容介質(zhì)引入回路。高頻信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生特定頻率的交流電壓，材料在電場(chǎng)中極化并產(chǎn)生位移電流。儀器通過檢測(cè)諧振頻率偏移及回路 Q 值變化，計(jì)算介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)。該方法適用于高頻（1MHz 以上）低損耗材料的測(cè)試，具有精度高、抗干擾能力強(qiáng)的特點(diǎn)。

電橋法
基于惠斯通電橋平衡原理，將待測(cè)材料等效為電容與電阻的并聯(lián)模型。通過調(diào)節(jié)橋臂參數(shù)使電橋平衡，利用公式 ε = C/(ε?A/d) 計(jì)算介電常數(shù)，同時(shí)根據(jù)相位差確定介質(zhì)損耗因數(shù)。該方法適用于工頻至中頻（1kHz~10MHz）范圍，對(duì)高損耗材料（如絕緣油）的測(cè)試效果更佳。

兩種方法均需進(jìn)行開路校準(zhǔn)和短路校準(zhǔn)，使用標(biāo)準(zhǔn)聚苯乙烯介電片或 NIST 溯源的標(biāo)準(zhǔn)電容器消除系統(tǒng)誤差。